Валишева, Н. А.; Левцова, Т. А.; Путято, М. А.; Семягин, Б. Р.; Селезнев, В. А.; Преображенский, В. В.
(Новосибирский государственный университет, 2008)
The physical parameters of various electronics devices are depended on the properties of semiconductor interface, in particular, surface morphology. The aim of our research was to investigate a influence of chemical treatment ...