Борисов, Г. М.; Ковалёв, А. А.
(Новосибирский государственный университет, 2012)
Предложен метод определения действительной и мнимой частей показателя преломления n(λ) и κ(λ) тонких слоев в полупроводниковых гетероструктурах. Метод основан на измерении двух характерных углов на кривых отражения от ...