Предложена экспресс-методика уточнения параметров элементарной ячейки поликристаллических образцов с большим коэффициентом поглощения (в том числе массивных). В основу положена схема Дебая-Шеррера, реализованная на дифрактометре Bruker X8APEX (МоКα-излучение, положения плоского двухкоординатного CCD-детектора 20÷90°, разрешение1 024 *1 024, время накопления 15 мин). Внешние эталоны– α-Al2O3 иAu. Изучен шлиф металлической таблетки Ir0,85Re0,15. Точность измерения параметра элементарной ячейки аГЦК= 3,8470(4) Å подтверждена результатами исследования образца в геометрии Брэгга– Брентано.
A quick test has been proposed for the refinement of the unit cell parameters of polycrystalline samples including massive those with a large absorption coefficient. The Debye – Scherrer scheme used as the basis was realized on a Bruker X8APEX diffractometer (MoKα radiation, the plate two-coordinate CCD detector position 20÷90°, the resolution 1 024 × 1 024, accumulation time 15 min). External standards were α-Al2O3 and Au. A polished section of the Ir0.85Re0.15 metal tablet was studied. The measurement precision of the unit cell parameter, afcc=3.8470(4) A, was confirmed by studying the sample in the Bragg-Brentano geometry.
