В Центре коллективного пользования применяют следующие методики измерений:
- методика регистрации спектров комбинационного рассеяния света;
- методика регистрации спектров ИК-поглощения;
- методика спектральной и лазерной эллипсометрии;
- методика восстановления диэлектрической функции планарных образцов на основе измерений их комплексных коэффициентов пропускания/отражения;
- методика экспонирования образцов электронным пучком для проведения процедуры электронно-лучевой литографии с помощью электронного микроскопа-литографа Pioneer;
- методика изучения роста слоёв материалов методом МЛЭ под контролем сверхвысоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии;
- методика определения размеров и формы частиц для жидких и твердых дисперсных систем в диапазоне от 1 до 70 нм;
- методика измерения микрорельефа поверхностных микроструктур (в том числе дифракционных) и тонких пленок;
- методика контроля точности изготовления поверхностей оптических деталей и оптических систем;
- методика прецизионного измерения вольт-амперных характеристик;
- методика прецизионного измерения вольт-фарадных характеристик;
- методики микроволновой обработки (нагрева) материалов с целью модификации их структуры и физических свойств;
- методика получения информации об атомной структуре веществ с помощью высокоразрешающей просвечивающей электронной микроскопии;
- методика получения визуальной картины микро- и нанорельефа поверхности образца с помощью растровой электронной микроскопии.
